Variass verzorgt seminar bij Astron en IBM Center

07 november 2016 | Variass verzorgt op 17 november een Design for Testability seminar bij Astron en IBM Center over het testen van analoge en digitale systemen.

Op 17 november 2016 verzorgt Variass een seminar over het testen van analoge en digitale systemen. Hier zal vooral aandacht gevraagd worden hoe je vroegtijdig de juiste testkeuzes maakt door middel van de door Variass ontworpen Design for Testability (DfT)-tools.

Wat is er voor nodig om digitale systemen te testen? Wat kan er allemaal getest worden? Hoe bereid je testprogramma's voor en wat zijn de beperkingen van deze tests? Tijdens dit seminar worden aan de hand van pratische tests antwoorden gegeven op deze en nog meer vragen. Voorbeelden van tests die gedaan zullen worden zijn: X-ray tests, optische inspectie en 'flying probe/needle' tests. Na afloop van de hands-on demonstraties worden enkele test set-ups nader besproken.

Dit interactieve seminar is pratisch van opzet en de deelnemers zullen actief betrokken worden. De presentaties en demonstraties worden verzorgd door engineers van Variass, Batenburg, Transfer, JTAG Technologies, IBM, and ASTRON.

Dit seminar kent een open inschrijving.

 

« Terug naar overzicht

Nieuwsbrief

Innovatiecluster Drachten maakt gebruik van cookies.
Innovatiecluster Drachten gebruikt cookies onder andere om de website te analyseren, te verbeteren en voor social media doeleinden. Door gebruik te blijven maken van deze website of door op akkoord knop te drukken, geef je aan akkoord te zijn met het gebruik van cookies op de websites van Innovatiecluster Drachten.